1.merials và các phương thức

-Các tác phẩm hóa học chính xác (trong khối lượng lớn) của hợp kim Hastelloy-x với 0 và 0,12 yttri được gọi tương ứng HX và HX-A, và được hiển thị trong Bảng 1. Hai mẫunày được tích hợp hình dạng của khối 45 × 45 × 45 mm bằng cách sử dụng máy SLM EOS M290 (EOS, Robert-stirling-ring 1, 82152, Kainilling, Bavaria, Đức) trong một Bầu không khí bảo vệ AR sử dụng Pre-alloyed Powder và các tham số xử lý tương tự. Chúng tôi đã tiến hành xử lýnhiệt tiêu chuẩn cho cả mẫu vật HX và HXA. Giải pháp xử lýnhiệt (ST) được thực hiện ở mức 1177 ◦C cho 2 giờ, sau đó là làm mát không khí đếnnhiệt độ phòng

-for the creep thửnghiệm, chúng tôi đã cắt lát khối thành một số tấm có độ dày 3,1 mm; Từ các tấmnày, các mẫu thử creep đã được cắt ra bằng máy cắt dây điện/discharge. Kích thước đo của mỗi mẫu là 19,6 × 2,8 × 3.0 mm. Chúng tôi đã tiến hành kiểm tra creep theo điều kiện 900 ◦C#80 MPA. Các mẫu vật được đánh bóng bằng cách sử dụng giấy SiC emery lên đến lớp 1200+, sau đó là dán kim cương lên đến silica keo (0,5 μm) bằng máy đánh bóng tự động (Ballerup, Đan Mạch). Tất cả các mẫu vật sau đó được rửa bằng ethanol trong phòng tắm siêu âm trong 10 phút. Chúng tôi khắc mẫu vật có dung dịchnước 20% photphoric-80% để quan sát ranh giới hồ bơinóng chảy. Quan sát cấu trúc vi mô đã được thực hiện bằng kính hiển vi quang học (OM; Olympus Corp Tokyo, Nhật Bản), kính hiển vi điện tử quét (SEM; HITACHI, Ltd., Tokyo, Nhật Bản), Năng lượng-DISPERSIVE quang phổ (EDS) (s-3700n loại eds Thiết bị được sản xuất bởi Horiba Seisakusho Co., Ltd., Kyoto, Nhật Bản), và kính hiển vi điện tử phát xạ hiện trường (FE-SEM) (JSM-7100, JEOL, Tokyo, Nhật Bản) gắn liền với một EDS (edaxametex 9424). Phần mềm hình ảnh J (64bit java 1.8.0_172) đã được sử dụng để phân tích phân số crack và đo độ xốp.

 3.results

 3.1.

 -

--as-back specimens--

built. Tất cả đã được sản xuất bằng cách sử dụng các thông số xử lý tương tự. Mẫu vật HXA thể hiệnnhiều vếtnứt hơn HX (Hình 1a) vì mẫu vật HX A chứa các yếu tố hợp kim Yttrium (Y) bổ sung mà mẫu vật HX thiếu. Điểm đáng chú ý là tất cả các vếtnứt song song với hướng xây dựng (BD) (Hình 1b). Các phân số crack cho các mẫu vật HX và HXA lần lượt là 1% và 5%.

--

gure 2 cho thấy SEM Micrographs củanhư một mẫu vậtnbbilt. Ở độ phóng đại thấp hơn, tất cả các mẫu vật cho thấy các ranh giới hồ bơinóng chảy và các cấu trúc củng cố, chẳng hạnnhư ranh giới hạt và dendrites (Hình 2a, B cho HX và Hình 2C, D cho HX A). Hình 2B cho thấy các vếtnứt ở độ phóng đại cao hơn trong mẫu vật HX. Trong cả hai mẫu vật, các vếtnứt được hình thành dọc theo ranh giới hạt và xuất hiện ở vùng Interdendritic.

--

A. Phân tích EDS đã tiết lộ SIC cacbua và hình thành W6C trong mẫu vật HX (Hình 3a). Trong mẫu vật HXA, ánh xạ EDS tại vếtnứt cho thấy sự hình thành YC (Hình 3b) .

----figure 4 hiển thị ánh xạ Eds Trong số các mẫu vật HXA AS

built (Hình 5) đã tiết lộ các hạt cột Cột được định hướng gầnnhư song song với hướng xây dựng. Trong mẫu vật HX, một số hạt được định hướng theo hướng và một số theo hướng (Hình 5a). Mặt khác, các hạt trong mẫu vật HXA có phần tốt hơn và chủ yếu được định hướng theo hướng (Hình 5b) .